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    X射线镀层测厚仪XDLM231/237

    描述:品牌:菲希尔型号:XDLM231/237样品高度:140mm

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      产品型号:
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      厂商性质:生产厂家
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      更新时间:2023-10-18
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      访问量:1169
    详细内容/ Product Details
      可用于测量所有金属镀层的厚度以及多镀层或者合金成分分析,也可以进行电解溶液含量成份分析,带有国家豁免证书,无放射源设计,安全环保。主要用于微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层测量、分析。

    1、测量大规模生产的电镀零部件;

    2、测量微小区域上的薄镀层;

    3、测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层;

    4、全自动测量,如测量印刷线路板。

                        型号

    项目

    XDLM-231

    XDLM-237

    通用规格

    设计用途

    能量色散X射线荧光光谱仪 (EDXRF) ,测量薄镀层和微小结构样品,分析合金组分

    元素范围

    从元素氯 (17) 到铀 (92),最多可以同时测定24种元素






    工作台


    平台

    固定式样品平台

    马达驱动可编程X/Y平台

    可用样品平台

    463mm x 500mm

    300mm x 350mm

    X/Y平台移动距离

    /

    255mm x 235mm

    X/Y平台移动速度

    /

    ≤80mm/s

    X/Y平台移动重复精度

    /

    ≤0.01mm(单向)

    样品重量

    20kg

    5kg,降低精度可达20kg

    样品高度

    140mm

    电气参数

    电原要求

    AC 220V 50HZ

    功耗

    120W(测量头,不包括计算机)

    保护等级

    IP40

    环境要求


    使用温度

    10℃-40℃

    存储或运输时温度

    0℃-50℃

    空气相对湿度

    ≤95%,不结露

    计算单元

    计算机

    Windows®-PC

    软件

    标准:Fischer WinFTM® BASIC

    可。篎ischer WinFTM® PDM®,SUPER

    尺寸规格

    外部尺寸

    570mm×760mm×650mm

    内部测量舱尺寸

    460mm x 495mm x146mm

    重量

    100kg

    120kg

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